首頁 - 檢測項(xiàng)目 - 金相分析
晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性能有很大影響。晶粒度的影響,實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大,對性能的影響也越大。對于金屬的常溫力學(xué)性能來說,一般是晶粒越細(xì)小,則強(qiáng)度和硬度越高,同時塑性和韌性也越好。
一般情況下平均晶粒度檢測有三種基本方法:比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下:
1、比較法
比較法不需計(jì)算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖進(jìn)行比較,用比較法評估晶粒度時一般存在一定的偏差(±0.5級)。評估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級。
2、面積法
面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)晶粒個數(shù),利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級別數(shù)。該方法的精確度中所計(jì)算晶粒度的函數(shù),通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的,重現(xiàn)性小于±0. 5級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)。
3、截點(diǎn)法
截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長度的試驗(yàn)線段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù),利用單位長度截點(diǎn)數(shù) 來確定晶粒度級別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù),通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到 ±0.25級的精確度。
測試項(xiàng)目 | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 樣品要求 |
平均晶粒度檢測 | GB/T 6394-2017 | 金屬平均晶粒度測定方法 | 1、取樣位置:棒狀樣1/2R處,塊狀樣1/2邊長處; 2、試樣尺寸推薦10*10mm |
NB/T 20004-2014 | 核電廠核島機(jī)械設(shè)備材料理化檢驗(yàn)方法 | ||
ASTM E112-2013 | 測定平均粒徑的試驗(yàn)方法 |
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